Aehr Test Systems

Aehr Test Systems, thành lập năm 1977 và có trụ sở tại Fremont, California, chuyên cung cấp toàn cầu các hệ thống burn-in và kiểm tra tiên tiến cho mạch tích hợp, bao gồm các thiết bị logic, quang học và bộ nhớ. Danh mục sản phẩm đa dạng của công ty bao gồm các dòng giải pháp kiểm tra và đốt cháy ABTS và FOX-P, được bổ sung bởi các linh kiện chuyên dụng như FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier và FOX DiePak Loader. Hệ thống ABTS được thiết kế đặc biệt cho cả đánh giá sản xuất và đánh giá chất lượng các bộ phận đóng gói, bao gồm nhiều thiết bị logic công suất thấp và cao hơn, cũng như nhiều loại bộ nhớ khác nhau. Đối với các mạch tích hợp phức tạp hơn như bộ nhớ, bộ xử lý tín hiệu số, vi xử lý, vi điều khiển, hệ thống trên chip và các thiết bị quang tích hợp, các hệ thống FOX-XP và FOX-NP hỗ trợ kiểm tra burn-in và chức năng ở cả cấp độ wafer và từng die/module riêng lẻ. Hệ thống FOX-CP của Aehr cung cấp giải pháp nhỏ gọn, sử dụng một tấm wafer để xác minh độ tin cậy của các thiết bị logic, bộ nhớ và quang tử. Một sản phẩm nổi bật, WaferPak Contactor, sở hữu thẻ đầu dò toàn bộ wafer độc quyền, chứa các wafer lên đến 300mm, cho phép các nhà sản xuất bán dẫn tiến hành kiểm tra toàn diện ở cấp wafer và burn-in trên nền tảng FOX của Aehr. Hơn nữa, DiePak Carrier cung cấp một vật liệu đóng gói tạm thời có thể tái sử dụng, giúp các nhà sản xuất IC hoàn thành các quy trình kiểm tra cuối cùng và burn-in cho khuôn trần và mô-đun.